X射線成像系統（便攜式探）

• 詳細信息
• 規格參數

X射線成像系統（便攜式探傷）

适合用(yòng)于研究文(wén)物考古，用(yòng)于文(wén)物内部結構、鑄造缺陷、文(wén)物腐蝕狀況特别是掩藏在厚厚的表面層下(xià)精美(měi)的花(huā)紋和(hé)銘文(wén)等的無損檢測。